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微儀光學(xué)

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【干貨】材料檢測表征方法之掃描電鏡

返回列表 來源: 發(fā)布日期:2022-05-24 17:12:41【

掃描電鏡技術(shù)在材料領(lǐng)域發(fā)揮著尤其重要的作用,廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面條件、損傷機(jī)制和材料性能預(yù)測。今天,小分析姐姐將與您討論材料檢測表征方法的掃描電鏡技術(shù)。


自1965年**臺(tái)商品掃描電鏡問世以來,經(jīng)過40多年的不斷提高,掃描電鏡的分辨率從**臺(tái)開始25nm到現(xiàn)在為止0.01nm,而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線波譜儀,X射線能譜儀等組合已成為對(duì)表面微觀世界進(jìn)行全面分析的多功能電子顯微儀器。

   

使用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其生產(chǎn)過程,觀察金屬材料中原子的收集和真實(shí)邊界,觀察邊界在不同條件下移動(dòng)的方式,以及表面機(jī)械加工中晶體造成的損傷和輻射損傷。

   

1、掃描電鏡的結(jié)構(gòu)和主要性能

   

掃描電鏡可大致分為鏡子和電源電路系統(tǒng)。鏡子部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)和真空抽氣系統(tǒng)組成。

   


(1)電子光學(xué)系統(tǒng)

   

它由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室組成。它的功能是掃描電子束作為信號(hào)的刺激源。為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率,掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的斑點(diǎn)直徑。

   

(2)信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)

   

檢測樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號(hào),然后通過視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號(hào)。電子探測器現(xiàn)在被廣泛使用,由閃爍體、光導(dǎo)管和光電倍增器組成。

   

(3)真空系統(tǒng)

   

真空系統(tǒng)的作用是保證電子光學(xué)系統(tǒng)的正常運(yùn)行,防止樣品污染,一般需要保持10-4~10-5Torr的真空度。

   

(4)電源系統(tǒng)

   

電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓、穩(wěn)流和相應(yīng)的安全保護(hù)電路組成,其功能是提供掃描電鏡各部分所需的電源。

   

(5)各類顯微鏡主要性能的比較

   

表1 各種顯微鏡性能的比較

   


   

2、掃描電鏡的工作原理

   

掃描電子槍發(fā)射的電子束在加速電壓的作用下,通過磁透鏡系統(tǒng)聚集形成直徑5nm,電子光學(xué)系統(tǒng)由兩到三個(gè)電磁透鏡組成,電子束聚焦在樣品表面。在更后一個(gè)透鏡上安裝了一個(gè)掃描線圈,使電子束在樣品表面掃描。由于高能電子束與樣品材料的互動(dòng),產(chǎn)生了各種信息:二次電子、背反射電子、吸收電子、X輻射、俄羅斯休息電子、陰尤發(fā)光和透射電子等。這些信號(hào)被相應(yīng)的接收器接收,放大后發(fā)送到顯像管的柵尤,以調(diào)節(jié)顯像管的亮度。由于掃描線圈上的電流對(duì)應(yīng)于顯像管的亮度,也就是說,當(dāng)電子束擊中樣品時(shí),顯像管熒光屏上出現(xiàn)亮點(diǎn)。

   

掃描電鏡采用逐點(diǎn)成像的方法,將樣品表面的不同特征按順序成比例轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào),完成一幀圖像,從而在熒光屏上觀察樣品表面的各種特征圖像。

   


   

(1)掃描電鏡襯里圖像

   

a.二次電子像

   

核外電子在入射電子束的作用下被轟擊并離開樣品表面,稱為二次電子。這是真空中的自由電子。二次電子通常在表面5~10 nm它對(duì)樣品的表面形狀非常敏感,因此可以非常有效地顯示樣品的表面形狀。二次電子產(chǎn)量與原子序數(shù)之間沒有明顯的依賴性,因此不能用于成分分析。

   

b.背散射電子圖像

   

背散射電子是固體樣品中原子核反彈的部分入射電子。背散射電子來自樣品表面數(shù)百納米的深度范圍。由于其生產(chǎn)能力隨著樣品原子序數(shù)的增加而增加,不僅可以用形態(tài)分析,還可用于顯示原子序數(shù)的襯里,并定性地用于成分分析。

   

背散射電子信號(hào)的強(qiáng)度遠(yuǎn)低于二次電子,因此粗糙表面的原子序數(shù)襯里往往被形狀襯里所掩蓋。

   

(2)掃描電鏡附件

   

掃描電鏡通常配有波譜儀或能譜儀。波譜儀和能譜儀不能相互替代,只能相互補(bǔ)充。

   

使用布拉格方程波譜儀2dsinθ=λ,從樣了試樣X射線具有適當(dāng)?shù)木w分光和不同的波長特征X射線將有不同的衍射角2θ。波譜儀是微區(qū)成分分析的有力工具。波譜儀的波長分辨率很高,但由于X射線利用率低,使用范圍有限。

   

使用能譜儀X對(duì)于某一元素,光量子的能量分析方法不同X主量子數(shù)為光量子n1層躍遷至主量子數(shù)為n2在層上,有特定的能量ΔE=En1-En2。能譜儀分辨率高,分析速度快,但分辨能力差,經(jīng)常有譜線重疊,低含量元素分析精度差。

   

與波譜儀相比,能譜儀的優(yōu)缺點(diǎn):

           能譜儀檢測X射線效率高。 能譜儀的結(jié)構(gòu)比波譜儀簡單,沒有機(jī)械傳動(dòng)部件,穩(wěn)定性和重復(fù)性好。 能譜儀不需要聚焦,所以對(duì)樣品表面沒有特殊要求。

但能譜儀的分辨率低于波譜儀;能譜儀的探頭要保持在低溫狀態(tài),因此要始終用液氮冷卻。

   

3、樣品制備技術(shù)

   

與透射鏡相比,掃描鏡的樣品制備相對(duì)簡單。在保持材料原始形狀的情況下,可以直接觀察和研究樣品的表面形狀和其他物理效果(特征),這是掃描鏡的突出優(yōu)勢。掃描鏡的樣品技術(shù)是透射鏡、光學(xué)顯微鏡和電子探針X基于射線顯微分析和樣品技術(shù)的發(fā)展,有些方面也有透射鏡樣品技術(shù),所使用的設(shè)備基本相同。但由于掃描電鏡有自己的特點(diǎn)和觀察條件,僅僅引用現(xiàn)有的樣品方法是不夠的。掃描電鏡的特點(diǎn)是:

   

①對(duì)不同尺寸的固體(塊、膜、顆粒)進(jìn)行觀察,并可直接在真空中觀察。

   

②樣品應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性,無導(dǎo)電樣品,其表面一般需蒸涂一層金屬導(dǎo)電膜。

   

③樣品表面一般起伏(凹凸)較大。

   

④制樣方法因觀察方法而異。

   

⑤樣品制備與加速電壓、電子束流、掃描速度(方法)等觀察條件的選擇密切相關(guān)。

   

樣品的導(dǎo)電性要求是上述項(xiàng)目中更重要的條件。掃描電鏡觀察時(shí),如果樣品表面不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆睿瑫?huì)產(chǎn)生電荷積累和放電,使入射電子束偏離正常路徑,更終導(dǎo)致圖像不清晰,甚至無法觀察和拍照。

   

(1)制備塊狀樣品

   

導(dǎo)電材料:主要指金屬,部分礦物和半導(dǎo)體材料也具有一定的導(dǎo)電性。這種材料的樣品制備更簡單。只要樣品尺寸不得超過儀器規(guī)定(如樣品直徑更大)φ25mm,更厚不超過20mm等待),然后用雙面膠帶粘在載體板上,然后用導(dǎo)電銀漿連接樣品和載體板(以確保良好的導(dǎo)電性),如銀漿干燥(一般使用臺(tái)燈近距離照射10分鐘,如果銀漿不干燥,蒸金真空會(huì)繼續(xù)揮發(fā)氣體,使真空過程減慢)可直接放入掃描鏡觀察。

   

非導(dǎo)電材料:樣品的制備也相對(duì)簡單,基本上可以像導(dǎo)電塊材料樣品的制備一樣,但需要注意的是,在涂抹導(dǎo)電銀漿時(shí),要從載體板連接到塊材料樣品的上表面,因?yàn)殡娮邮苯诱丈涞綐悠返纳媳砻妗?/p>

   

(2)制備粉末樣品

   

首先,將雙面膠帶粘在載體盤上,然后取少量粉末樣品靠近載體盤的中心,然后用洗耳球向載體盤徑向向外吹(注意不要用嘴吹氣,以免唾液粘在樣品上,也不要用工具撥粉,以免損壞樣品表面形狀),使粉末均勻分布在膠帶上,或吹走粘結(jié)不牢的粉末(以免污染鏡子)。然后在膠帶的邊緣涂上導(dǎo)電銀漿,以連接樣品和載體盤。銀漿干燥后,可進(jìn)行更終蒸金處理。

   

(3)制備溶液樣品

   

對(duì)于溶液樣品,我們通常使用薄銅片作為載體。首先,將雙面膠帶粘在載體盤上,然后粘在干凈的薄銅片上,然后小心地將溶液滴在銅片上,觀察樣品量是否足夠干燥(通常用臺(tái)燈近距離照射10分鐘)。如果不夠再滴一次,可以在再次干燥后涂上導(dǎo)電銀漿和蒸金。

   

掃描電鏡已成為廣泛應(yīng)用于各種科學(xué)領(lǐng)域和工業(yè)部門的有力工具。掃描電鏡除了廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)外,還廣泛應(yīng)用于地學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金、機(jī)械加工等領(lǐng)域。了解掃描電鏡的工作原理及其應(yīng)用,充分利用掃描電鏡的工具,對(duì)材料進(jìn)行全面細(xì)致的研究。

   

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