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微儀光學(xué)

天津微儀光學(xué)儀器有限公司顯微鏡自動化的多元化高科技企業(yè)

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原子力顯微鏡(探頭掃描式) WY- LS-AFM

微儀光學(xué)儀器在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計算機分析系統(tǒng)及機械自動化系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。
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  • ◆性能特點:
    實現(xiàn)樣品保持不動,探針移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡

    樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大的樣品檢測。

    樣品臺可拓展性強,非常便于進行多儀器聯(lián)用實現(xiàn)原位檢測。

    電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測。

    龍門架式掃描頭設(shè)計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺。
    馬達自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。
    高倍輔助光學(xué)顯微定位,實時觀測與定位探針以及樣品掃描區(qū)域。

    集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

     

    ◆測量范圍及應(yīng)用:

    測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

    應(yīng)用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。



    ◆ 應(yīng)用案例 Application Case

    微信圖片_20220424160343.png



  • 序號

    名稱

    技術(shù)參數(shù)

    01

    工作模式

    接觸模式、輕敲模式

    02

    選配模式

    摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力

    03

    力譜曲線

    F-Z力曲線、RMS-Z曲線

    04

    XY掃描范圍

    20×20um,可選50×50um100×100um

    05

    Z掃描范圍

    2.5um,可選5um,10um

    06

    掃描分辨率

    橫向0.2nm,縱向0.05nm

    07

    樣品尺寸

    Φ≤90mm,H≤20mm

    08

    樣品臺行程

    15×15mm

    09

    光學(xué)觀察

    4X光學(xué)物鏡/2.5um分辨率

    10

    掃描速率

    0.6Hz~30Hz

    11

    掃描角度

    0~360°

    12

    運行環(huán)境

    Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

    13

    通信接口

    USB2.0/3.0

    14

    減震設(shè)計

    彈簧懸掛/金屬屏蔽箱


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